第1回 九州半導体産業展
出展のご案内
平素は格別のお引立てを賜り、厚くお礼申し上げます。
第1回九州半導体産業展に三谷商事様と共同出展致します。
半導体産業が活況な九州で行われる半導体産業に特化した専門展示会となります。弊社ブースでは検査に欠かせない自動外観検査装置の実機を展示しております。
会場へお越し頂けました際には、弊社ブースへ是非、お立ち寄り頂きたく存じます。
期間 :2024年9月25日(水)~9月26日(木) 10:00-17:00
会場 :マリンメッセ福岡 B館 菱光社ブース :10-14

ご来場方法
下記URLより事前登録をお願い致します。
https://innovent02.eventos.tokyo/web/portal/730/event/9643/users/register?pcode=ryokosha
※バッチ印刷までの流れについてはサイト内にて、ご確認をお願い致します。
出展製品
三谷商事㈱ ウェハ自動外観検査装置 Cosmo Finder
低コスト・高拡張性を備えたウェハ自動外観検査装置

●検出したい対象に合わせて検出手法から提案
ルールベースの画像処理も、AIを利用した検出・分類分けも、検出したい対象欠陥に合わせて最適な手法を提案致します。

重なり合うような異物や傷の検出
研磨傷内にある異物や打痕の検出

AIを利用した検出の提案も致します。
例)学習データから検出欠陥を3種類へ分類
●ハード面もカスタマイズ可能
サンプルの特性に合わせたカスタマイズや前後の工程とのジョイントも対応しております。
- ローダー・アンローダーユニット
- 吸着ユニット
- エクスパンド、バッググラインディング済みウェハ対応
- 刻印文字の認識、バーコード・QRコード対応
- GEMなどを利用した上位システムとの連携
- 安全対策・・・など