平素は格別のお引立てを賜り、厚くお礼申し上げます。
弊社は第2回九州半導体産業展に出展致します。
半導体産業が活況な九州で行われる半導体産業に特化した専門展示会となります。弊社ブースでは自動外観検査装置、最新のデジタルマイクロスコープなどの実機を展示しております。
会場へお越し頂けました際には、弊社ブースへ是非、お立ち寄り頂きたく存じます。
期間 ：2025年10月8日（水）～10月9日（木） 10:00-17:00
会場 ：マリンメッセ福岡 A館 菱光社ブース ：A7-11
下記URLより事前登録をお願い致します。
https://innovent02.eventos.tokyo/web/portal/730/event/13109/users/register?_gl=1*1q0wsrf*_gcl_au*NDAwMzUxNzEwLjE3NTgxODMyNjM.
※バッチ印刷までの流れについてはサイト内にて、ご確認をお願い致します。
低コスト・高拡張性を備えたウェハ外観検査装置です。
検出したい対象に合わせて、ルールベースの画像処理も、AIを利用した検出・分類分けも、最適な手法を提案致します。
ソフト面だけでなくハード面も要望に合わせて提案可能です。
度かつ深い被写界深度により微細構造を鮮明に観察、自動画像合成や測定・レポート機能を活用することで、作業効率を大幅に向上させます。
ISO/IEC 17025認定校正に対応しているため、国際規格に準拠した信頼性の高い測定結果を提供できます。
非接触式光学表面プロファイリングに力強い汎用性をもたらします。
このシステムは鏡面、粗面、平面、傾斜、階段状など、さまざまな種類の表面を簡単に素早く測定可能です。
サブミクロンのコンタミ可視化を実現、装置内部の発塵源の特定、清浄度の検証などに寄与します。
